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明导白皮书免费下载：使用诊断驱动的良率分析克服系统性良率限制因素
摘要 诊断驱动的良率分析 (DDYA) 技术利用生产测试结果、批量扫描诊断和统计分析来查找 IC 芯片中导致良率损失的原因。它能协助逐步提升新制造工艺的良率，改善成熟工艺的良率，以及满足汽车 IC ...查看更多
明导白皮书免费下载：使用诊断驱动的良率分析克服系统性良率限制因素
摘要 诊断驱动的良率分析 (DDYA) 技术利用生产测试结果、批量扫描诊断和统计分析来查找 IC 芯片中导致良率损失的原因。它能协助逐步提升新制造工艺的良率，改善成熟工艺的良率，以及满足汽车 IC ...查看更多
明导白皮书免费下载：Silicon Creations 采用 AFS Platform 进行高性能 7nm IP 验证
摘要 虽然迁移到更小工艺几何图形有许多好处，例如降低功耗及提升性能，但设计复杂性的增加给快速高效的仿真技术带来了更大的负担。此外，快速准确的电阻/电容 (RC) 提取也变得愈发重要。互连电阻在路径总 ...查看更多
明导4.21线上研讨会：高速PCB叠层设计解决方案 Z-Planner Enterprise
讲师 季伸彪 技术市场工程师，曾经在国内大型EMS公司及国内知名通讯公司任职，深刻了解DFM在PCB设计与制造中的优势，2006年开始从事DFM相关岗位，2011年开始从事Valor NPI技术相 ...查看更多
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明导Realize LIVE精彩回顾丨电子设计企业成功实现数字化转型的方法
AJ Incorvaia 西门子数字工业软件 电子电路板系统部门专家 随着人工智能、5G、物联网等技术的蓬勃发展，越来越多的企业将数字化转型提上日程，使得数字化转型成为当今炙手可 ...查看更多
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